天瑞ICP光譜儀使用的原理分析簡(jiǎn)述

發(fā)表時(shí)間2017-10-24
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天瑞ICP光譜儀的工作原理元素的原子在激發(fā)光源的作用下發(fā)射譜線，譜線經(jīng)光柵分光后形成光譜，每種元素都有自己的特征譜線，譜線的強(qiáng)度可以代表試樣中元素的含量，用光電檢測(cè)器將譜線的輻射能轉(zhuǎn)換成電能。檢測(cè)輸出的信號(hào)，經(jīng)加工處理，在讀出裝置上顯示出來(lái)。然后根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)制作的分析曲線，得出分析試樣中待測(cè)元素的含量。

經(jīng)典天瑞ICP光譜儀的基本原理

經(jīng)典天瑞ICP光譜儀是建立在空間色散原理上的儀器。一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1、入射狹縫:在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2、準(zhǔn)直元件:使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3、色散元件:通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4、聚焦元件:聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

5、探測(cè)器陣列：放置于焦平面，天瑞ICP光譜儀用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類(lèi)的光探測(cè)器陣列。